2019年4月8日，在美國芝加哥全部自動化及機(jī)器人展覽會期間，深圳市納研科技有限公司在伊利諾伊州芝加哥市Automate舉辦的第五屆年度視覺系統(tǒng)設(shè)計創(chuàng)新獎頒獎典禮上的機(jī)器視覺類別中獲得了銅級獎項，本公司的手機(jī)玻璃蓋板外觀缺點(diǎn)檢驗設(shè)備獲得了系統(tǒng)集成商和終端用戶公司相關(guān)人士組的一致認(rèn)可。

深圳市納研科技有限公司（中國深圳; www.nanovision.cn）：移動玻璃蓋檢驗系統(tǒng)（視覺系統(tǒng)）。深圳市納研科技有限公司（Nanovision）開發(fā)了一種利用算法和專項使用光源和線掃描相機(jī)的手機(jī)玻璃蓋外觀缺點(diǎn)檢驗裝置（NANO-CGI-4070RC）。該設(shè)備目前能夠檢驗2D和2.5D素玻璃手機(jī)玻璃蓋板以及絲印后的手機(jī)玻璃蓋板，并且與3D手機(jī)玻璃蓋板兼容。

創(chuàng)新者獎的評判基于以下標(biāo)準(zhǔn)：

•原創(chuàng)

•革新

•對設(shè)計人員，系統(tǒng)集成商，用戶的影響

•滿足市場中尚未解決的需求

•利用新技術(shù)

2019年Visions系統(tǒng)設(shè)計創(chuàng)新者獎獲獎?wù)邊⒓恿?月份的視覺系統(tǒng)設(shè)計雜志以及http://www.vision-systems.com。公司獲得以下類別的認(rèn)可：

•軟件

•視覺系統(tǒng)

關(guān)于視覺系統(tǒng)設(shè)計

Vision Systems Design自1996年發(fā)布以來，是工程師，工程經(jīng)理和系統(tǒng)集成商的大部分國家資源，為視覺系統(tǒng)技術(shù)，應(yīng)用和市場提供一體的大部分國家覆蓋。 Vision Systems Design的雜志，網(wǎng)站（http://www.vision-systems.com），電子郵件通訊和網(wǎng)絡(luò)直播報告和分析大部分國家機(jī)器視覺和圖像處理行業(yè)的技術(shù)和業(yè)務(wù)發(fā)展及趨勢。

關(guān)于視覺系統(tǒng)設(shè)計2019年創(chuàng)新獎項計劃

Vision Systems Design 2019創(chuàng)新獎計劃審核并認(rèn)可了視覺和圖像處理行業(yè)中具創(chuàng)新性的產(chǎn)品和服務(wù)。獲獎?wù)哂?019年在美國伊利諾伊州芝加哥舉行的Automate 2019上宣布。創(chuàng)新獎評選中使用的標(biāo)準(zhǔn)包括：原創(chuàng)性，創(chuàng)新性 ; 對設(shè)計師、系統(tǒng)集成商和用戶的影響; 滿足市場上尚未解決的需求，利用新技術(shù)，提高生產(chǎn)力等。

關(guān)于公司

深圳市納研科技有限公司是一家由歸國留學(xué)生創(chuàng)立的、國家認(rèn)定的高新技術(shù)企業(yè)。作為面向高等的機(jī)器視覺設(shè)備開發(fā)商和系統(tǒng)集成商，納研科技具有定制特殊圖像處理算法的技術(shù)優(yōu)勢。自成立至今，納研科技一直以為客戶提供有經(jīng)驗的技術(shù)解決方案和產(chǎn)品為己任，通過使客戶以相對較小的投入獲得經(jīng)濟(jì)效益來體現(xiàn)納研科技的自身價值。長期以來，納研科技通過與日本、歐美等一些高科技公司一起研發(fā)項目，與他們建立了良好、穩(wěn)固的合作關(guān)系。
目前公司聚焦3C領(lǐng)域，研發(fā)并生產(chǎn)出手機(jī)玻璃蓋板外觀缺點(diǎn)檢驗、LCD/OLED液晶模組點(diǎn)燈檢驗、蓋板絲印尺寸在線檢驗、手機(jī)外觀缺點(diǎn)檢驗、高精度陣列圖案檢驗、三維自動識別和定位模塊、工業(yè)機(jī)器人視覺引導(dǎo)對位系統(tǒng)、手機(jī)PCBA板返修檢驗、紡織品/皮革表面缺點(diǎn)檢驗等設(shè)備。其中手機(jī)玻璃蓋板外觀缺點(diǎn)檢驗設(shè)備無缺解決玻璃蓋板弧面（P面和R角）缺點(diǎn)的檢驗難題，并且能檢驗2.5D、3D玻璃蓋板。該設(shè)備以的技術(shù)優(yōu)勢，一經(jīng)推出就引起玻璃蓋板行業(yè)的轟動，并獲得終端客戶的一致認(rèn)可。

獲獎鏈接：https://www.vision-systems.com/articles/2019/04/2019-innovators-awards-bronze-level-honorees.html